x射线衍射分析(xrd)

x射线衍射(XRD)是一种分析晶体材料结构的无损检测方法. XRD通常用于鉴定固体材料中的矿物和金属化合物, 验证材料组成, 或者确定不需要的沉积物的来源.

我们的专业化学家可以帮助您使用x射线衍射(XRD)来表征您的晶体材料. XRD分析也可以提供结构信息, 首选晶体取向, 以及其他结构参数, 如平均晶粒尺寸和应变分布.

XRD分析过程

样品通常以固体矿物或粉末形式提交. 固体材料被磨碎或磨成细粉，并放在样品台上.

x射线衍射图是由测角仪产生的, 它在用x射线轰击样品材料时以特定角度旋转. 衍射图样的峰强度是由晶格内原子的分布决定的. x射线衍射图是特定于给定材料中的周期性原子排列的, 与ICDD标准数据库的x射线衍射图相识别比较.

XRD分析报告

XRD仪器生成计数与2- θ度的曲线图. 特定的矿物化合物由扫描的某些区域的反射率表示. 通过将得到的光谱与数据库中超过100个的光谱进行比较,000种矿物化合物, 我们的工作人员化学家可以快速识别匹配的矿物群. 每个报告都给出了XRD图，以及数据库的紧密匹配. 结合EDS元素分析, XRD是测定未知矿物化合物的有力工具.

功能

• 粉末金属和矿物化合物的鉴别

• 初生晶相和少数晶相的定量

• 择优取向的量化

• 金属和陶瓷中残余应力的测量

• 晶体尺寸的测量

样品需求

• 需要5克(最少)的材料，必须磨成粉末